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chore: 优化批量下发缓存与测试模式逻辑
解决问题：南向队列容量的溢出风险，以及状态机的错别字还有快速启动加动态测试的导致没有继电器开启的问题
1. apps/chrg/applications/thread/chrg_roll_sou.h
- 调整SOU_COM_BATCH_REG_MAX为32并补充注释说明预留空间
2. apps/chrg/applications/utils/chrg_sink.h
- 移除废弃的SINK_WORK_RUNING_2枚举项
- 重命名测试模式枚举项为更清晰的名称
3. apps/chrg/applications/thread/chrg_comm.c
- 更新测试模式匹配逻辑为新枚举项
4. apps/chrg/applications/thread/chrg_roll_sou.c
- 新增批量缓存空间回收与异常校验逻辑
- 优化批量满日志输出信息
5. apps/chrg/applications/utils/chrg_sink.c
- 重构测试启动函数为更语义化的名称
- 调整动态测试命令寄存器数量与内容
- 更新工作状态分派逻辑适配新枚举项
6. 新增编译日志与程序流程说明文档
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